✍️ 德索连接器 · 王工

很多工程师第一次做Fakra多端口测试时都会遇到一个现象：

同一套连接器、同一台VNA、同一个测试夹具。

换了一种校准方式后：

📉 隔离度突然相差2～5 dB；
📉 高频端曲线开始漂移；
📉 两次测试结果完全对不上。

不少人第一反应是：

是不是连接器性能不稳定？

其实很多时候，问题并不在连接器，而是在校准方式。

📡 一、多端口测试，真正测的是整个测量平面

测试Fakra多端口时，常见指标包括：

• 插入损耗（S21）
• 回波损耗（S11）
• 端口隔离度（S31、S41等）
• 串扰（NEXT/FEXT）

这些参数都高度依赖：

VNA的参考测量平面是否建立正确。

如果校准不到位：

后续所有S参数都会受到影响。

⚙️ 二、SOLT校准：使用最广，但并非万能

SOLT代表：

• Short（短路）
• Open（开路）
• Load（匹配负载）
• Through（直通）

优点：

✔ 操作简单；
✔ 商用校准件成熟；
✔ 同轴接口测试效率高。

对于标准SMA、N型等同轴接口：

SOLT通常可以获得很好的测试结果。

但问题在于：

它非常依赖校准件模型的准确性。

如果：

• 转接头较多；
• 测试夹具复杂；
• 存在非理想过渡；

误差就会逐渐累积。

📐 三、TRL校准，更适合复杂夹具

TRL代表：

• Thru
• Reflect
• Line

它最大的特点是：

不依赖高精度Load模型。

而是利用：

不同长度传输线建立参考平面。

因此对于：

• PCB夹具；
• 高速连接器；
• 非标准接口；

TRL通常具有更好的高频准确度。

尤其：

10GHz以上，

TRL优势会越来越明显。

📊 四、为什么隔离度最容易受影响？

很多人关注：

S11。

其实真正最敏感的是：

隔离度（Isolation）

原因很简单。

隔离度本身就是：

很小的信号。

例如：

-30dB

意味着：

只有千分之一左右的能量。

此时：

任何一点校准残差，

都会直接进入最终结果。

所以：

一个原本只有：

0.2dB的校准误差，

都可能造成：

几dB的隔离度偏差。

⚡ 五、SOLT和TRL最大的区别，不只是精度

更重要的是：

误差模型不同。

SOLT主要依赖：

标准件误差补偿。

TRL更强调：

传输路径真实恢复。

因此：

对于Fakra这种：

存在连接器+夹具+PCB过渡的系统。

TRL往往能够：

更准确恢复真实S参数。

特别是在：

• 高频；
• 多端口；
• 隔离测试；

优势更加明显。

🔧 六、什么时候选SOLT？什么时候选TRL？

一般可以这样理解：

适合SOLT：

✔ 标准同轴接口；
✔ 测试链路简单；
✔ 商用校准件齐全；
✔ 常规生产测试。

更适合TRL：

✔ PCB测试夹具；
✔ 高速连接器验证；
✔ 多端口网络；
✔ 高频研发测试。

不少研发实验室：

开发阶段使用TRL，

量产检测再切换SOLT。

这样既保证精度，

又兼顾效率。

📋 七、真正影响测试结果的，还有这些细节

除了校准方式：

还有几个因素同样容易影响隔离度：

🔹 校准参考面是否一致；
🔹 Fakra转接器重复插拔一致性；
🔹 测试线缆弯曲状态；
🔹 VNA端口稳定性；
🔹 去嵌入（De-embedding）是否正确。

很多时候：

大家看到的是：

“校准方式不同。”

实际上：

真正叠加的是：

整个测试系统误差。

📋 老射频测试工程师的一句话

很多新人觉得：

“校准只是测试前的准备工作。”

实际上：

对于高频连接器来说，

校准本身就是测试的一部分。

参考平面放在哪里，

决定了你最终测到的是：

连接器真实性能，

还是夹具和转接器共同”演出来”的结果。

✨ 写在最后

Fakra连接器多端口VNA测试中，SOLT和TRL并没有绝对的优劣，而是适用于不同的测试对象和目标。

德索连接器在高速射频测试项目中总结出几点经验：

📡 SOLT适合标准同轴接口和常规量产测试；
⚡ TRL更适合复杂夹具、高频研发和多端口测量，可有效降低夹具带来的误差；
📊 隔离度属于低电平参数，对校准残余误差极其敏感，校准策略往往比仪器精度更关键。

因此，对于Fakra高频测试而言，真正值得重视的不是：

“SOLT还是TRL更先进？”

而是：

哪一种校准方式，能够把你的参考平面真正建立到连接器本身。